太平洋コンサルタント株式会社

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走査型電子顕微鏡(SEM)

中性化塩害化学的劣化ASR強度凍害ポップアウト火災

観察試料に電子線を照射し、試料を構成する物質から発生する二次電子などを検出し、画像化します。微細な形状を拡大観察するための有力な方法です。倍率は数十倍から数万倍まで自由に設定できます。また、SEMに付属のエネルギー分散型X線分析装置(EDS)を併用することで、対象物の元素分析が可能です。

二次電子像(形態観察)

二次電子像(形態観察)

二次電子像(形態観察)

セメント水和物などの観察例

各種セメント硬化体の観察例

各種セメント硬化体の観察例

各種セメント硬化体の観察例

各種セメント硬化体の観察例

反射電子像(組成分析)

反射電子像は、平均原子番号が大きいものは明るく、平均原子番号が小さいものは暗く観察されるため、観察試料の化学組成の違いを反映した画像となります。

普通セメントペースト

普通セメントペースト

普通セメントペースト

W/C=0.5、材齢28日(左)および材齢365日(右))未水和セメント(白)、空隙(黒)、セメント水和物(暗灰色~明灰色)空隙が材齢の経過とともに減少している様子が確認されます。

DEFを生じたコンクリートDEFを生じたコンクリート
骨材とセメントペースト界面にエトリンガイトが析出している様子が観察されます。

EDSによる定性分析、マッピング分析

各種セメント硬化体の観察例

各種セメント硬化体の観察例

EDSによる定性分析:エトリンガイト(分析位置:写真の×)

BEI

AI

Si

FAのEDSマッピング

FA粒子中にムライトの結晶が確認され、その周囲はSi(ケイ素)が多いことが確認されます。