事業内容

走査型電子顕微鏡(SEM)

pdf資料

観察試料に電子線を照射し、試料を構成する物質から発生する二次電子などをキャッチし、画像化します。微細な形状を拡大観察するための有力な方法です。倍率は数十倍から数万倍まで自由に設定できます。

走査型電子顕微鏡とは?

太さナノメートル(百万分の1mm)程度に絞られ、数千ボルト以上の電圧で加速された電子線を、真空下で観察試料に照射すると、試料中の物質から二次電子や特性X線が発生します。これらをキャッチし、試料表面の微細な形態や、含まれる元素の情報を得る方法です。電子線をプローブとして観察領域内を走査するので、走査型電子顕微鏡(Scanning Electron Microscope)といい、英語名よりSEMと略称されます。

SEM装置の外観

SEM装置の外観

二次電子像観察

  • pdf資料

    セメントペーストの観察例です。破断した断面をそのまま観察すれば、構成する物質のオリジナルの形態を確認することができます。針状や葉片状の形態を持つセメント水和物が認められます。

  • pdf資料

    フライアッシュの観察例です。粉末状の試料は、両面テープなどで試料台に固定して観察します。耳かきに一杯程度のごく少量でも、十分に観察することができます。

  • pdf資料

    試料は直径1cm強の試料台に固定します。右は塊状試料、左は両面テープで固定した粉末試料です。いずれも表面には導電性を高めるための物質(白金、パラジウムなど)が蒸着されています。

当ページのPDF資料ダウンロードはこちら

東京営業所用 資料DW
西日本営業部用 資料DW
資料DW一覧

お問い合わせ・依頼書のダウンロードはこちら

ご質問・資料請求など、お気軽にお問い合わせ下さい。

tel.03-5820-5603

お問い合わせ
依頼書をダウンロードできます。
依頼書一覧

事業内容

3.セメント・コンクリート・
コンサルティング

8.放射性廃棄物処理に関する
研究・製品