事業案内

5.機器分析

粉末X線回折(XRD)

粉末X線回折(XRD)

固体に含まれる物質の種類を特定するための基本的な方法です。

蛍光X線分析(JIS R 5204他)

蛍光X線分析(JIS R 5204他)

各種材料・原料等に含まれる無機成分元素の特定や定量を行います。

示差熱天秤分析(TG-DTA)

固体を加熱して、揮発や燃焼等により失われる成分を定量します。

赤外線分光分析

赤外線分光分析

固体に含まれる成分、特に有機物質を検出します。

走査型電子顕微鏡(SEM)

走査型電子顕微鏡(SEM)

固体を数十~数万倍に拡大して微細な形態を観察します。

電子線マイクロアナライザー(EPMA)

電子線マイクロアナライザー(EPMA)

1mm角に満たない微細な領域の化学組成を分析します。

実体顕微鏡・偏光顕微鏡

実体顕微鏡・偏光顕微鏡

骨材の岩石や構成鉱物を観察し、特徴を明らかにします。

水銀圧入ポロシメーター(MIP)

水銀圧入ポロシメーター(MIP)

固体中のミクロン~ナノメーターのレベルの微小空隙を定量します。

BET装置、密度計

BET装置、密度計

固体の重要な特性値である比表面積や密度を測定します。

粒度分布測定装置

粒度分布測定装置

粉体の重要な性質である粒度分布を測定します。

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事業内容

3.セメント・コンクリート・
コンサルティング

8.放射性廃棄物処理に関する
研究・製品